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怎样测试多种导电材料介质(电阻)的阻值随温度的变化值

更新时间:2024-03-15      浏览次数:263

高阻测定仪_高阻仪

型号:VXMGZ-I

该仪器采电子、数控方法,用于测试多种导电材料介质(电阻)的阻值随温度变化的值,通过绘制电阻,温度由线,可定性分析电阻温度变化率。其主要适用于大专院校电子材料实验室等的研究和教学演示用。

技术指标:

试样大小可对¢40以上或10×10×10mm的PTC样品进行R-T特性试验;

温度范围:室温-300℃

控温精度:±1℃;

电阻范围:0.01Ω-10^15Ω

加热功率:0-300W可调

环境温度:0-40℃

环境湿度:≤85%

工作电源:220V 50Hz

机实现全自动PTD调节,曲线CRT显示,数据存储或打印。


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